證券之星消息，根據(jù)企查查數(shù)據(jù)顯示利揚(yáng)芯片（688135）新獲的一項(xiàng)發(fā)明專利授權(quán)，專利名為“存儲(chǔ)器修復(fù)測試方法及系統(tǒng)”，專利申請?zhí)枮镃N202110682992.0，授權(quán)日為2024年5月14日。
專利摘要：本發(fā)明公開了一種存儲(chǔ)器修復(fù)測試方法及系統(tǒng)，其中該方法包括如下步驟：生成一信息統(tǒng)計(jì)記錄表；通過測試向量對待測存儲(chǔ)器進(jìn)行數(shù)據(jù)分析和地址解析，以的到存儲(chǔ)器中失效存儲(chǔ)單元得地址信息和數(shù)據(jù)信息；將失效存儲(chǔ)單元得地址信息和對應(yīng)得數(shù)據(jù)信息錄入信息統(tǒng)計(jì)記錄表中；當(dāng)所有測試向量執(zhí)行完畢后，根據(jù)信息統(tǒng)計(jì)記錄表中記錄得信息對存儲(chǔ)器中失效存儲(chǔ)單元進(jìn)行修復(fù)處理；采用上述存儲(chǔ)器修復(fù)測試方法，在采用多段測試向量對存儲(chǔ)器進(jìn)行測試過程中，中間無須停頓，待所有測試向量執(zhí)行完畢后，統(tǒng)一有有序地對所有得失效存儲(chǔ)單元進(jìn)行修復(fù)處理，具有測試和修復(fù)處理效率高得優(yōu)點(diǎn)，有效節(jié)約測試時(shí)間。
今年以來利揚(yáng)芯片新獲的專利授權(quán)8個(gè)，較去年同期增加了300%。結(jié)合公司2023年年報(bào)財(cái)務(wù)數(shù)據(jù)，2023年公司在研發(fā)方面投入了7516.24萬元，同比增11.26%。
數(shù)據(jù)近日：企查查
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