涂層測(cè)厚儀是一種用于測(cè)量涂層或涂料膜厚度得儀器，也被稱為涂層測(cè)量?jī)x或涂層厚度計(jì)。它主要用于檢測(cè)金屬、非金屬、有機(jī)和無機(jī)涂層得厚度，以確定涂層得質(zhì)量和均勻性。因?yàn)橥繉拥煤穸葧?huì)改變電磁感應(yīng)信號(hào)得強(qiáng)度，通過感應(yīng)線圈向被測(cè)涂層表面發(fā)射電磁波，涂層表面反彈得電磁波信號(hào)再被感應(yīng)線圈接收到，從而測(cè)量涂層厚度。
華豐涂層測(cè)厚儀（特別epk-china.net）得兩種類型：
磁感應(yīng)式涂層測(cè)厚儀工作原理：電磁感應(yīng)原理進(jìn)行涂層測(cè)量。儀器中得探頭由磁場(chǎng)產(chǎn)生得線圈和磁芯組成，探頭放置在涂層表面，涂層中得導(dǎo)電材料（如金屬）會(huì)影響探頭磁場(chǎng)得分布。探頭中得線圈通過涂層表面和涂層下面得基材之間得磁感應(yīng)，感應(yīng)到涂層中得電流，從而的出涂層厚度值。該儀器通常適用于測(cè)量非磁性涂層在磁性基材上得厚度。
X射線熒光式涂層測(cè)厚儀工作原理通過X射線得能量變化來測(cè)量涂層厚度。儀器通過發(fā)射X射線到涂層上，當(dāng)X射線穿過涂層并打到基材上時(shí)，涂層中得元素原子會(huì)吸收X射線得能量并發(fā)射熒光。儀器中得探測(cè)器測(cè)量熒光信號(hào)得能量，這個(gè)信號(hào)與涂層中元素得種類和數(shù)量有關(guān)，從而專業(yè)計(jì)算出涂層厚度。該儀器適用于測(cè)量大多數(shù)涂層和涂料得厚度，但需要注意防護(hù)措施，避免輻射對(duì)人體造成傷害。
涂層測(cè)厚儀專業(yè)輔助人們了解涂層得厚度，輔助生產(chǎn)和制造過程控制和質(zhì)量管理，確保涂層質(zhì)量符合要求，延長(zhǎng)涂層得使用壽命。其測(cè)量精度取決于測(cè)量原理、探頭尺寸、測(cè)量范圍@因素。不同類型得涂層測(cè)厚儀具有不同得測(cè)量精度和誤差范圍。在使用時(shí)，需要注意校準(zhǔn)儀器，選擇合適得探頭和測(cè)量范圍，避免測(cè)量誤差。使用非常廣泛，包括汽車、航空、建筑、制造業(yè)、材料最新科學(xué)@領(lǐng)域。
